要想更好的使用(yòng)特导電(diàn)炭黑,那么就要对其各方面的性能(néng)参数有(yǒu)所了解,就比如要想了解该产品的化學(xué)性质,通过测定可(kě)以检测出。但是如何检测其化學(xué)性质呢(ne)?
特导電(diàn)炭黑的物(wù)理(lǐ)化學(xué)性能(néng)直接反映质量情况,因而对不同的使用(yòng)要求进行准确的测量是十分(fēn)重要的。目前國(guó)外各厂家的指标不尽相同,但公认的一些重要指标各家都要测定。
最重要的指标是:反映其初级结构的指标,如粒径尺寸和分(fēn)散度,比表面积;反映其二次结构的指标,如吸油值等;反映其表面化學(xué)情况的指标,如表面各种羟基的浓度等。
1、粒径大小(xiǎo)和粒径分(fēn)布由于生成条件、粒子增長(cháng)的情况存在差别,故特导電(diàn)炭黑的粒子直径并不均一,平常所说的粒子直径,只具有(yǒu)统计平均的意义。
2、比表面积的测定比表面积是反映粉料物(wù)质的外表面积大小(xiǎo)的指标,对于一种多(duō)孔隙性的粉料物(wù)质来说,其比表面积為(wèi)孔隙内的表面积和外表面积之和。一般来说,粉料物(wù)质的粒径与其比表面积呈反比关系,所以比表积的测定可(kě)定性地反映粉體(tǐ)的粒径大小(xiǎo)。由于電(diàn)子显微镜并非所有(yǒu)工业单位都能(néng)具备,粉體(tǐ)的粒径就无法获得,因而比表面积的测定就具有(yǒu)重要的实际应用(yòng)价值。
3、表面羟基的测定特导電(diàn)炭黑的表面存在着硅醇基团,而特导電(diàn)炭黑的许多(duō)应用(yòng)直接与这种基团有(yǒu)关,因此,定量地测定表面羟基是十分(fēn)重要的。特导電(diàn)炭黑表面羟基的则定的数据,一般包括总羟基、相邻羟基、隔离羟基等。后两种是以Si-OH的形式结合在特导電(diàn)炭黑表面的,统称為(wèi)结合羟基;总羟基则是结合羟基与吸附在特导電(diàn)炭黑表面上的水分(fēn)子中的羟基之和,这几种羟基数据可(kě)分(fēn)别在不同条件下测定。
特导電(diàn)炭黑二次结构的测定國(guó)外一般认為(wèi)二次结构的程度直接影响填料的补强行為(wèi),所以测定二次结构也很(hěn)重要。但迄今还没有(yǒu)一种很(hěn)好的测定方法,目前应用(yòng)最广的方法有(yǒu)二种:一是测定在压缩下的表观比容;二是测定吸油值。
所以要想测定特导電(diàn)炭黑的化學(xué)性质,主要就是通过以上所说的这几种方法,但也要注意不管用(yòng)哪一种方法来测定,都要正确检测。